Optische Nahefeldmikroskopie
Einsatz von Rasternahfeldmikroskopie zur Abbildung von Nanostrukturen und zur spektroskopischen Untersuchung von Biomaterialien im Nanometerbereich.
Rasternahfeldmikroskopie (engl. scattering scanning near-field optical microscopy, s-SNOM) ist eine Mikroskopietechnik, die es ermöglicht, das Beugungslimit – eine der größten Einschränkungen in der Optik – zu überwinden. Dies wird ermöglicht, indem Licht mittels einer scharfen Spitze eines Rasterkraftmikroskops auf den Nanometerbereich fokussiert wird. Dadurch entsteht ein verstärktes und räumlich lokalisiertes Nahfeld an der Spitze, das mit der darunter liegenden Probe wechselwirkt und räumliche Auflösungen bis hinunter zu 20 nm ermöglicht. S-SNOM kann sowohl in der Photonik als auch in der Festkörperphysik eingesetzt werden, um Objekte im Subwellenlängen-Bereich, wie z.B. polaritonische Strukturen und Nanoresonatoren, aufzulösen. In der Biospektroskopie kann s-SNOM zur Beobachtung und Abbildung von Nanopartikeln oder lebenden Zellen sowohl in trockener als auch in wässriger Umgebung verwendet werden, und erlaubt zusätzlich die zeitaufgelöste Verfolgung spektroskopischer Veränderungen.
Einige Beispiele unserer Arbeiten zur Nahfeld-Mikroskopie werden auf der englischen Version dieser Seite genauer vorgestellt. Eine vollständige Publikationsliste findet sich hier.